日本napson高規(guī)半自動(dòng)四探針薄層電阻測(cè)量?jī)x
產(chǎn)品名稱: 日本napson高規(guī)半自動(dòng)四探針薄層電阻測(cè)量?jī)x
產(chǎn)品型號(hào): RT-3000 / RG-2000
產(chǎn)品特點(diǎn): 日本napson高規(guī)半自動(dòng)四探針薄層電阻測(cè)量?jī)x具有拳球醉佳電阻測(cè)量范圍的4探針?lè)y(cè)量?jī)x測(cè)量模式可編程和圓形/方形測(cè)量兼容的繪圖軟件自檢功能,厚度/外圍位置/溫度補(bǔ)償功能(用于硅)根據(jù)電阻范圍從兩種類型的測(cè)試儀中選擇(RT-3000(S):寬范圍的測(cè)量范圍,RT-3000(H):高阻的測(cè)量范圍)
日本napson高規(guī)半自動(dòng)四探針薄層電阻測(cè)量?jī)x 的詳細(xì)介紹
日本napson高規(guī)半自動(dòng)四探針薄層電阻測(cè)量?jī)x
測(cè)量規(guī)格
測(cè)量目標(biāo)
- 與半導(dǎo)體/太陽(yáng)能電池相關(guān)的材料(硅,多晶硅,SiC等)
- 新材料/功能材料(碳納米管,DLC,石墨烯,銀納米線等)
- 導(dǎo)電薄膜相關(guān)(金屬,ITO等)
- 擴(kuò)散樣本
- 硅基薄膜(LTPS等),IGZO
- 硅基外延離子注入樣品
- 其他(*請(qǐng)與我們聯(lián)系)
測(cè)量尺寸
?8英寸,或?156x156mm
-選項(xiàng)(兼容大直徑尺寸:RG-3000型):?12英寸,?210 x 210毫米
測(cè)量范圍
①RT-3000(S);
[電阻(比電阻)]100μ至1MΩ·cm
[片材電阻] 1m至10MΩ/
sq②RT-3000(H);
[片材電阻] 10m至1GΩ/ sq
測(cè)量規(guī)格
測(cè)量目標(biāo)
- 與半導(dǎo)體/太陽(yáng)能電池相關(guān)的材料(硅,多晶硅,SiC等)
- 新材料/功能材料(碳納米管,DLC,石墨烯,銀納米線等)
- 導(dǎo)電薄膜相關(guān)(金屬,ITO等)
- 擴(kuò)散樣本
- 硅基薄膜(LTPS等),IGZO
- 硅基外延離子注入樣品
- 其他(*請(qǐng)與我們聯(lián)系)
測(cè)量尺寸
?8英寸,或?156x156mm
-選項(xiàng)(兼容大直徑尺寸:RG-3000型):?12英寸,?210 x 210毫米
測(cè)量范圍
①RT-3000(S);
[電阻(比電阻)]100μ至1MΩ·cm
[片材電阻] 1m至10MΩ/
sq②RT-3000(H);
[片材電阻] 10m至1GΩ/ sq
映射圖像
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